L. Y. Hao, M. Ji, J. Yuan, D. Y. An, M. Y. Li, X. J. Zhou,Y. Huang, H. C. Sun, Q. Zhu, F. Rudau, R. Wieland, N. Kinev, J. Li, W. W. Xu, B. B. Jin, J. Chen, T. Hatano, V. P. Koshelets, D. Koelle, R. Kleiner, H. B. Wang, and P.H. Wu